SZT-4数字式四探针测试仪
，是二量程的电阻丈量仪器
，配以手持式测试头或座式测试架
，可用来丈量片状
，柱状
，或块状
，电阻率在0.01~200欧姆/厘领域内的半导体资料。(客户凭据分歧的要求能够选择分歧的量程
，最幼能够丈量0.0001Ω最大能够丈量100000Ω,凭据电流档定精度)通过对恒流源的调整
，能够对某些丈量了局进行建整
，例如对通常硅资料的测试了局要乘以0.628的探险头建改系数
，对硅资料薄层扩散和导电薄膜 “方块电阻“ 的建改系数为4.53等均可通过调正恒流电流加以处置。SZT－4数字式四探针测试仪
，体形幼巧
，操作方便
，量程适中
，极度适於对沉炼回料的分选。

本仪器工作环境前提为：
温　　度：18℃―25℃
相对湿度：60%－80%
工作室内应无强电场滋扰
，不与高频设备共用电源。

二
，技术参数

1,丈量领域
电 阻 率:0.01-200Ω-cm
方块电阻:0.01-200Ω-口
电 阻:0.01-200.0

2,数字电压表
(1)量 程:200mV单一量程
(2)误 差:读数 ±0.2%±3字
(3)输入电阻:>10MΩ

3,恒流源
(1)电流输出:0~10mA陆续可调
(2)量 程:1mA, 10mA
(3)误 差:±0.2%±3字,

4,手持式四探针测试头
(1)探 针 间 距:1mm
(2)探针机械游移率:±1.0%
(3)探 针 材 料:碳化钨,φ0.
(4)压力:最大 2Kg

5,电源:220V±10%：50Hz
功耗：5W

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，表形尺寸：

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，使用步骤：取出仪器平放於桌上
，将三芯电源线接入仪器的电源插座中
，并接通互换电压（220V）
，再将测试探头的插头插入相应的插座中
，按下电源开关使仪器得电
，仪器上的数字电压表就有读数显示
，若是面板上的二个职能开关全数处於弹出状态
，则二个开关旁边的“调整”批示灯和：“1mA”批示灯将被点亮
，此时旋转电流调节旋钮电压表读数就会产生有规定的变动
，这注明仪器已经能够正常工作。
下一步就能够跟据测试的必要对电流进行调整。电流调整应该将电流开关放在10mA的地位上。

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，电流调整：
（1）半导体（硅）资料的电阻率测试：在10mA电流量程大将电流调到6.28mA,相当于在10mA电流情况下测得的了局,乘以探头建改系数0.628。由於恒流源的调整
，1mA和10mA是同步的
，在`10mA调准以来1mA量程同样蕴含有这个建改系数。
（2）半导体（硅）资料薄层扩散
，玻璃或塑料的薄导电镀复层的方块电阻 测试:在10mA电流量程大将电流调至4.53mA, 测得了局乘以10,就是方块电阻。
（3）电阻测试：电阻测试不能使用探头
，必须换用带有鳄鱼夹子的四线插头“电阻测试线”（选配件）。电流调到10mA,电压表的显示值就是电阻值
，不用建改。
（4）在做好测试前的筹备工作之后
，取下探头；じ
，将探头压在被测工件上
，使四根探针和工件维持优良接触
，

使用时确当苦衷项：
（1）；じ侨∠潞罂隙ㄒＡ艉
，用毕仍要盖好
，以防探针败坏。
（2）仪器操作时
，应备戴乾燥手套
，操作场地
，桌椅均应维持乾燥。
（3）在被测资料表形尺寸允许的情况下
，建议使用台式测试架（选购件）
，可使测试精度和不变性城市有所提高。
（4）对於被测工件为片状其厚度<3.49毫米时,还应对测试了局进行厚度建改,建改参数见参数表,附录`1A和附录1B 。
（5）附录2
，是对片状工件表形（园形
，矩形）和丈量地位的建改参数表。